TY  - PAT
CY  - Patent, Norm, Standard
A1  - Heyne, Lutz
A1  - Ulrich, Stephan
A1  - Lange, Robert
T1  - Entfernungsmesssystem
UR  - https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=DE102018126896A1
ER  -